г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

CMF4002101DNE Sick

Артикул
CMF4002101DNE
Дополнительный Артикул
CMF4002101DNE
Бренд
Sick
Описание
Сканер DEVICENET COMMUNICATION MODULE KITUSE WITH CDM 4
Теги
Разное(сканеры штрих-кода)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1026145
Бренд: Sick
Описание: Датчик расстояния MHSE15-P3336 PE THRUBEAM / PLASTICTHROUGH-BEAM PESTRAIGHT5M SENSING DISTANCEPNPLOM12IP69K
Подробнее
Артикул: LFP0200-G1BMB
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1073859)LFP0200-G1BMBLFP HYGIENIC TDR LEVEL TRANSMITTER0200 MMG 3/4 A (CONNECTION FOR HYGIENIC ADAPTERS) / PROBE IN 316LSTAINLESS STEEL HOUSI
Подробнее
Артикул: WL4S3E1332V
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик 1046437 / WL4S-3E1332V
Подробнее
Артикул: DOL-1203-G0M9 KAR
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DOL-1203-G0M9 KAR(6026425)
Подробнее
Артикул: PBS-CB025SGESSCD5A0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6038911)PBS-CB025SGESSCD5A0ZPBS ELECTRONIC PRESSURE SWITCH WITH DISPLAYCOMPOUND PRESSURE (+-)-1…+24 BARACCURACY +-1% OF SPANG1/2B ACC. TO EN83
Подробнее
Артикул: WL4SLG-3P3432V
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик Features_x000D_ Sick;Sensor/detection principle: Photoelectric retro-reflective sensor, autocollimation. Dimensions (W x H x D): 15.3 mm x 55.4 mm x 22.2 mm. Housing design: Washdown 1). Housing design (light emission): Rectangular. Mounting hole: M3. Sensing range max.: 0 m ... 4.5 m 2). Sensing range: 0 m ... 2 m 2). Type of light: Visible red light. Light source: Laser 3). Light spot size (distance): O 1 mm (500 mm). Wave length: 650 nm. Laser class: 1 (EN60825-1:2008-05 & IEC 60825-1:2007-03 / CDRH 21 C
Подробнее