г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

CLV63X1YEAREXTWAR Sick

Артикул
CLV63X1YEAREXTWAR
Дополнительный Артикул
CLV63X1YEAREXTWAR
Бренд
Sick
Описание
Сканер (1064000)CLV63X 1 YEAR EXT WARCLV63X 1 YEAR EXTENDED WARRANTY
Теги
Разное(сканеры штрих-кода)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WTB4-3P2100S79
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик SICK OPTIC ELECTRONIC
Подробнее
Артикул: WL160N142
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDNPNRED2 M RANGE P 250INL)CABLEVERTICAL HOUSING6022761)
Подробнее
Артикул: 1000T311
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRIC2-WIRE SOLID STATELIGHT SWITCHINGIR5 M RANGE3-PIN MICRO W/150 MM PIGTAIL
Подробнее
Артикул: 6053474
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV311-XXANCCKMXLBV311 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDSSTANDARD (150C)THREAD NPT 1 (PN16316L)CONTACTLESS SWITCH 20?253VAC/DCPLASTIC IP
Подробнее
Артикул: WSW24
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик WEATHER SHIELD FOR W 24 2
Подробнее
Артикул: L21E-11MA1A
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0 m ... 5 m. Number of beams: 1. Optical axis: Radial. Response time: 0.2 ms_x000D_ Sick;0.2 ms + response time of the test device_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 2 (IEC 61496) 1). Safety integrity level: SIL1 (IEC 61508) 1)_x000D_ Sick;SILCL1 (EN 62061) 1)_x000D_ Sick;. Category: Category 2 (EN ISO 13849) 1). Test rate (external test): 100 /s (EN ISO 13849) 2). Maximum demand rate: ? 60 /min (EN ISO 13849) 3). Performance level: PL c (EN ISO 13849) 1). PFHD (mean probability of a dangerous failure pe
Подробнее