г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

CLV4900010S12 Sick

Артикул
CLV4900010S12
Дополнительный Артикул
CLV4900010S12
Бренд
Sick
Описание
Сканер 1028869 / CLV 490-0010S12 PLASTIC
Теги
Разное(сканеры штрих-кода)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: GRL18-P1132
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1066556)GRL18-P1132GRL18-P1132 PHOTOELECTRIC RETRO-REFLECTIVE SENSORPOLARIZATION FILTERPINPOINT RED LIGHTSENSING RANGE 6 MPNPCOMPLIMENTAR
Подробнее
Артикул: 2034203
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC RECEIVER
Подробнее
Артикул: 6036827
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик WFL120-40B416 / PHOTOELECTRIC SLOT SENSORPNP/NPNLASERM8 4PIN CONNECTOR10MM WIDTH40MM DEPTH
Подробнее
Артикул: 122P460
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPRED20 . . . 150 MM PRECISE ABS-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: 6055176
Бренд: Sick
Описание: Датчик TBS-1FSN22506ZMTBS TEMPERATURE SWITCH, 2 X NPN, 1/2" NPT, 250 MM / 6 MM, WITHOUT SEAL, M12X1, 4-PIN
Подробнее
Артикул: PBSH-RB6X0ST1S0BMA0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Liquid, gaseous. Pressure type: Gauge pressure. Measuring range: 0 bar ... 6 bar. Overpressure safety: 2-fold. Process temperature: –20 °C ... +100 °C, +135 °C for max. 1 h. Maximum ohmic load RA: ? 0.5 k?. Zero point adjustment: Max. + 3 % of span. Output signal: 1 x PNP + 4 mA ... 20 mA. Rotatable housing: Display against housing with electrical connection: 330 °_x000D_ Sick;Housing against process connection: 320 °_x000D_ Sick;. Display: 14-segment-LED, blue, 4-digits, height 9 mm, electronically tu
Подробнее