г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: с 9-00 до 21-00
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

CLV490-1010 Sick

Артикул
CLV490-1010
Дополнительный Артикул
CLV4901010
Бренд
Sick
Описание
Сканер (1016959)CLV 490-1010 BAR CODEOSCILLATING MIRROR / STANDARD / SOFTWARE SELECTABLE HOST PORT R 232/422/485
Теги
Промышленные сканеры штрих-кода

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1042092
Бренд: Sick
Описание: Датчик WSE4S-3E2130 - THROUGH-BEAM PENPNDARK OP.RED LEDM8 3-PIN
Подробнее
Артикул: IM04-0B6PS-ZUB
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6020610)IM04-0B6PS-ZUB 5M CABLE0.6MM FLUSHPNPNO5M CABLE
Подробнее
Артикул: WTB4S-3P3262V
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1046385)WTB4S-3P3262VPROXIMITY BGS PNP LO/DORED LEDM8 4-PIN 150MM PIGTAILMETAL MEMBRANE TEACH
Подробнее
Артикул: 1071222
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IME12-06BPSZW2SM12 THREADED BODY6MM RANGEQUASI-FLUSHPNPNORMALLY OPEN2M PVC CABLESTANDARD HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: DRS61-E4Z0-S01
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик INCREM. CORETECH
Подробнее
Артикул: MLG05A-0295B10501
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Version: Pro. Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): 5 mm, 9 mm 1) 2) 3). Beam separation: 5 mm. Number of beams: ? 60. Detection height: 295 mm. Software features: Qa1: Number of broken beams_x000D_ Sick;Qa2: height measurement (last beam)/LBB_x000D_ Sick;Q1: presence detection_x000D_ Sick;Q2 / IN: Teach-in_x000D_ Sick;Teach: Standard mode_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object at high measurement accuracy._x000D_ Sick;2) MDO min. detectable object for standard measurement accuracy._x000D_ Sick;3) Depending on beam separation without cross be
Подробнее