г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

CLV420-1910S04 Sick

Артикул
CLV420-1910S04
Дополнительный Артикул
CLV4201910S04
Бренд
Sick
Описание
Сканер CLV420-1910S04(1028252)
Вес
5,44 кг
Теги
Сканер

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6039298
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PHT-RBX25SD30S0AMS0ZPHT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTER,GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0 . 0,25 BAR,ACCURACY +-0.5% OF SPAN,CLAMP DIN 32676 DN 32,FLUSH-MO
Подробнее
Артикул: OD2505P830
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DISPLACEMENT SENSORPNP4..20MARED LED25 +/-5MM MEASURING RANGE8-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: 1071184
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IME08-2B5POZW2SM8 THREADED BODY3MM RANGEQUASI-FLUSHPNPNORMALLY CLOSED2M PVC CABLESTANDARD HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: DOS 1204-GG
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DOS 1204-GG(6007305)
Подробнее
Артикул: WFL30-40B416
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Dimensions (W x H x D): 10 mm x 68.5 mm x 47 mm. Functional principle: Optical detection principle. Housing design (light emission): Fork shaped. Fork width: 30 mm. Fork depth: 42 mm. Minimum detectable object (MDO): 0.05 mm. Light source: Laser, visible red light. Wave length: 670 nm. Laser class: I. Adjustment: Plus/minus buttons (Teach-in, sensitivity, light/dark switching). Teach-in mode: 2-point teach-in. Output function: Light/darkswitching, selectable via button_x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;IO-Lin
Подробнее
Артикул: 1048419
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DL50-N2225 / DISTANCE MEASURING DEVICERETROREFLECTIVECLASS 1RANGE 200MM.50MRS4221X PNP1XMF INPUT OR Q2 OUTPUT.
Подробнее