г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

C40P-1801AG300 Sick

Артикул
C40P-1801AG300
Дополнительный Артикул
C40P1801AG300
Бренд
Sick
Описание
Датчик (7122713)C40P-1801AG300 BASIC PLUS1800 MM HEIGHT14 MM BEAM RESOLUTIONPAIR0-2.5M RANGEBASIC PLUS

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6041771
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBT-RB040SG1SENAMA0ZPRESSURE TRANSMITTER PBT,GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0…40 BAR,NON-LINEARITY +-0.5% OF SPAN (BFSL),G1/4A ACC. TO DIN3852-E,STANDAR
Подробнее
Артикул: IM18-08NPS-ZCK
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1017433)IM18-08NPS-ZCK8MM NON-FLUSHPNPNOM12
Подробнее
Артикул: 1012908
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDREDPNP7 M RANGE PL 80 A4-PIN M12 CONNECTOR REPLACED BY 1025911
Подробнее
Артикул: WT9-2P351
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик 1019027 - PROXIMITY ENERGETICPNPRED10.450MM RANGETEACH-IN4-PIN M8
Подробнее
Артикул: WS/WE260-R270
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6020774)WS/WE260-R270THROUGH-BEAM PEACSPDTREDTERM. CHAMBERTIMINGBRACKET INCLUDED
Подробнее
Артикул: DFS60S-TGOA01024
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL2 (IEC 61508), SILCL2 (IEC 62061) 1). Category: 3 (EN ISO 13849). Test rate: Not required. Maximum demand rate: Continuous (analog signals). Performance level: PL d (EN ISO 13849) 1). PFHd: Probability of dangerous failure per hour: 1.7 x 10-8 2). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849). Safety-related measuring step: 0.09°, Quadrature analysis. Safety-related accuracy: ± 0.09°_x000D_ Sick;1) For more detailed information on the exact configuration of
Подробнее