г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

C40E-1503AN310 Sick

Артикул
C40E-1503AN310
Дополнительный Артикул
C40E1503AN310
Бренд
Sick
Описание
Датчик 1500 MM HEIGHT30 MM BEAM RESOLUTIONRECEIVER0-6M RANGEECO
Теги
Световые занавесы

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1041983
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV 631-2120 / MID RANGE RIGHT ANGLE LINE SCANNERETHERNET COMMUNICATION
Подробнее
Артикул: LBV310-XXCGDCANX
Бренд: Sick
Описание: Датчик (6038104)LBV310-XXCGDCANXLBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDSWITHOUT APPROVALSDETECTION OF SOLIDS IN WATERTHREAD G1 1/2 A (PN25316L
Подробнее
Артикул: 6041887
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFV230-XXSGBTPM2000LFV230 VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE EXTENSION, XX WITHOUT APPROVALS, STANDARD (100C), THREAD G3/4A (PN64, 316L), STAINLESS ST
Подробнее
Артикул: WTB27-3P3441
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1029082)WTB27-3P3441PROXIMITY PEBGSPNPRED4-PIN M12 PIGTAIL270MMPOT
Подробнее
Артикул: CLV691-1000
Бренд: Sick
Описание: Сканер Features_x000D_ Sick;Version: Low Density. Connection type: Depending on the cloning plug used. Reading field: Oscillating mirror. Scanner design: Line scanner. Focus: Auto focus (alternative: dynamic focus control). No. of distance configurations: ? 8. Focus adjustment time: ? 20 ms. Focus trigger source: Data interface / switching inputs. Light source: Visible red light (660 nm). MTBF: 100,000 h. Laser class: 2 (IEC 60825-1 (2007-3), EN 60825-1 (2008-05)). Aperture angle: ? 50°. Scanning frequency: 400 Hz
Подробнее
Артикул: WL9-2N121
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRIC POLARIZED RED NPN 35MM FO
Подробнее