г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

BEF-ER-SS4000-LFPC Sick

Артикул
BEF-ER-SS4000-LFPC
Дополнительный Артикул
BEFERSS4000LFPC
Бренд
Sick
Описание
Датчик (2078195)BEF-ER-SS4000-LFPCSPARE ROPE PROBE FOR LFP CUBICPROBE LENGTH 4000 MMMATERIAL 1.4404/316LDIAMETER 3 MM BEF-ER-SS4000-LFPC

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DOL-1204-G20MC
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6034750)DOL-1204-G20MCCORDSETM12FEMALE4-PINSTRAIGHTPURBLACK20M
Подробнее
Артикул: 6038309
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV330-XXBGDRAMX1900LBV330 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS WITH TUBE EXTENSION, WITHOUT APPROVALS,THREAD G1 1/2 A (PN25, 316L), RELAY (DPDT)
Подробнее
Артикул: 1042839
Бренд: Sick
Описание: Датчик расстояния DISTANCE MEASURING DEVICEREFLEX130M CAN
Подробнее
Артикул: 1022619
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV 422-1010 - RASTER SCAN / HIGH DENSITY / HOST PORT RS 232/422/485
Подробнее
Артикул: WTB4S-3P2204VS02
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик Features_x000D_ Sick;Sensor/detection principle: Photoelectric proximity sensor, Background suppression. Dimensions (W x H x D): 15.25 mm x 44.9 mm x 22.2 mm. Housing design: Washdown. Housing design (light emission): Rectangular. Sensing range max.: 4 mm ... 280 mm 1). Sensing range: 10 mm ... 150 mm 1). Type of light: Visible red light. Light source: PinPoint LED 2). Light spot size (distance): O 2.5 mm (100 mm). Wave length: 650 nm. Adjustment: Cable, Single teach-in button 3). Special features: Light sp
Подробнее
Артикул: WT45-P200S03
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1015316)WT45-P200S03PROXIMITY PEBGSPNPREDTERMINAL CHAMBERTIMINGHI TEMP
Подробнее