г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

AT20E-PM111 Sick

Артикул
AT20E-PM111
Дополнительный Артикул
AT20EPM111
Бренд
Sick
Описание
Сканер Features_x000D_ Sick;Dimensions (W x H x D): 24.3 mm x 59.8 mm x 54.1 mm. Functional principle: Edge detection, scanning, and reflector operation. Sensing distance: 25 mm. Housing design (light emission): Rectangular. Operating range: 20 mm ... 30 mm. Measurement range: 20 mm. Minimum detectable object (MDO): 0.8 mm. Light source: LED, white. Wave length: 400 nm ... 700 nm. Light spot size: 30 mm x 5 mm. Repeatability: 0.03 mm 1). Linearity: ± 2 % 2)_x000D_ Sick;1) With respect to sensing distance._x000D_ Sick;2) Analog current ra
Теги
бесконтактные переключатели

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DSL-1203-B02MC
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6025925)DSL-1203-B02MCEXTENSION, M12, FEMALE, 4-PIN, RT. ANGLE -TO- M12, MALE, 3-PIN, STR., PUR, BLK, 2M, PIN 2 N.C.
Подробнее
Артикул: PFT-SAB1X0SG1SSAAMSSZ
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6038762)PFT-SAB1X0SG1SSAAMSSZPFT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTERABSOLUTE PRESSURE0…1 BARACCURACY +-0.5% OF SPANG1/4A ACC. TO DIN3852-ESTANDARD
Подробнее
Артикул: 7123691
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик M40P-025033RB0 / 2 BEAM500 MM BEAM SPACING: PAIR - LASER ALIGNMENT AIDINTEGRATED LEDADVANCED
Подробнее
Артикул: C40E1201BG300
Бренд: Sick
Описание: Датчик 1200 MM HEIGHT14 MM BEAM RESOLUTIONRECEIVER1-5M RANGEBASIC PLUS
Подробнее
Артикул: VTF184N5340
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик MTL RA NPN M12 PLG L/D
Подробнее
Артикул: 80560500
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик SICK 805-605-00 - PHOTOEYE
Подробнее