г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

AT20E-NM111 Sick

Артикул
AT20E-NM111
Дополнительный Артикул
AT20ENM111
Бренд
Sick
Описание
Сканер Features_x000D_ Sick;Dimensions (W x H x D): 24.3 mm x 59.8 mm x 54.1 mm. Functional principle: Edge detection, scanning, and reflector operation. Sensing distance: 25 mm. Housing design (light emission): Rectangular. Operating range: 20 mm ... 30 mm. Measurement range: 20 mm. Minimum detectable object (MDO): 0.8 mm. Light source: LED, white. Wave length: 400 nm ... 700 nm. Light spot size: 30 mm x 5 mm. Repeatability: 0.03 mm 1). Linearity: ± 2 % 2)_x000D_ Sick;1) With respect to sensing distance._x000D_ Sick;2) Analog current ra
Теги
Сканер

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6038047
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV310-XXANDNAMXLBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS, WITHOUT APPROVALS, STANDARD (150C), THREAD NPT1 1/2 (PN25, 316L), NAMUR SIGNAL, ALUMI
Подробнее
Артикул: EL1-P125
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPNPREDLIGHT SWITCHINGALARMOPERATING RANGE 4 MM12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: WE24-R2331
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH BEAM PHOTOELECTRIC INDIVIDUAL RECEIVER UC SPDT TIME DELAYS PG 9 ENTRY
Подробнее
Артикул: 1023608
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG 5-1450I812 LIGHTGRID / HEIGHT 1450MM/BEAM SPACING 50MM1XPNPRS4851X INPUTRANGEPROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: IM3015NNSZU0
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик 7900130 / IM30-15NNS-ZU0 INDUC PROX
Подробнее
Артикул: WL92N431
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDREDNPN0...4 M RANGE PL 80 ATEACH-IN4-PIN M12
Подробнее