г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

AOS104RTG Sick

Артикул
AOS104RTG
Дополнительный Артикул
AOS104RTG
Бренд
Sick
Описание
Сканер (1064544)AOS104 RTGAOS104-RTG SYSTEM IS A PRE-CONFIGURED SYSTEM AND INCLUDES: (4) LMS1XX SCANNERSCONTROLLERMOUNTING AND ELECTRICAL HARDWARE.
Теги
Сканер

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: S30A-6011DB
Бренд: Sick
Описание: Сканер 1026401 - S 3000 PROFESSIONAL CMS5.5 M MAXIMUM SAFETY ZONEWITHOUT SYSEM PLUG OR CABLES
Подробнее
Артикул: IME12-02BPOZW2S
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1040738)IME12-02BPOZW2SSTANDARD (1X) SNFLUSHPNPNC2M CABLE
Подробнее
Артикул: 1016066
Бренд: Sick
Описание: Сканер PHOTOELECTRIC SAFETY LASER SCANNER
Подробнее
Артикул: WT42P401S25
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик
Подробнее
Артикул: 1059538
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик GRL18S-N1331 / PHOTOELECTRIC RETRO-REFLECTIVE SENSORPINPOINT RED LIGHT LEDPOLARIZATION FILTERSENSING RANGE 6 MNPN LIGHT.ONCABLE 2MM18 META
Подробнее
Артикул: MLG2-0280F812
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 25 mm 1). Beam separation: 20 mm. Number of beams: ? 15. Detection height: 280 mm. Configuration: Parameterization interface (measuring)_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object._x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range: 7 m 1). Minimum range: Parallel beam: ? 0 mm. Working range: 5 m. Response time: Parallel beam ? 3.25 ms 2)_x000D_ Sick;1) No reserve for environmental issue and deterioration of the diode._x000D_ Sick;2) With resistive load._x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Switc
Подробнее