г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

7900006 Sick

Артикул
7900006
Дополнительный Артикул
7900006
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик IM08-02BNS-ZT0 INDUC PROX / 2MM FLUSHNPNNOM8
Вес
1,36 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: SGS4-F108P7PS1T00
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1047501)SGS4-F108P7PS1T0040MM RESOLUTIONFLAT108CM TALL2X PNP7M RANGEM8 PIGTAIL NOT BEAM CODEDWITHOUT STABILIZERTEACH BUTTON
Подробнее
Артикул: DRS61-C4R08192
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик INCREM. CORETECH PPR 8192
Подробнее
Артикул: 122N130
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICNPNRED20 M RANGECABLE
Подробнее
Артикул: WTB250-2P2431
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6044675)WTB250-2P2431PROXIMITY PEBGS300MM RANGEPNPRED4-PIN M12BRACKET INCLUDED
Подробнее
Артикул: WTF9-3P2261P03
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1053767)WTF9-3P2261P03PNPLO/DOBULK PACK OF PE W9 PROXIMITY SENSORS WITH FOREGORUND SUPPRESSIONA RED LEDPOTENTIOMETERAND AN M8 4-PIN IN A
Подробнее
Артикул: EXE-12C6603B020
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 30 mm. Protective field height: 1,200 mm. Scanning range: 0 m ... 16 m. Response time: 13 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 15 x 10-9 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849). Safe state in the event of
Подробнее