г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: с 9-00 до 21-00
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

6047895 Sick

Артикул
6047895
Дополнительный Артикул
6047895
Бренд
Sick
Описание
Датчик LBV331-XXAGDRKMX0350LBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS, MONO-PROBE, 350MM TUBE, STANDARD (150C), G 1-1/2 , RELAY (DPDT), PLASTIC IP66/IP6
Теги
Tube

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 5308130
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LL3-DA02 FIBER OPTIC / PLASTIC FIBER-OPTICBIFURCATED12MM FOCUS LENSDIRECT REPLACEMENT FOR BF-LLK1-TG12
Подробнее
Артикул: 1065730
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик GTE6-P4231PNP,LO/DO, PNP, LO/DO, M8 4-PIN CONNECTOR, PHOTO-ELECTRIC PROXIMITY SENSOR, ENERGETIC
Подробнее
Артикул: IM3015NUSZC0
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик
Подробнее
Артикул: ELG6-0900R523
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1025453)ELG6-0900R523HEIGHT 900MM/BEAM SPACING 60MM, 1 RELAY, 12M, M12 4-PIN, MULTIPSCAN
Подробнее
Артикул: 7123309
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICNPNREDDARK SWITCHINGALARMOPERATING RANGE 4M30IN PIGTAIL WITH WAGO 733-103 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: FLN-OSSD1000105
Бренд: Sick
Описание: Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 0.76 x 10-9 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849)_x000D_ Sick;Functions_x000D_ Sick;Diagnostic and monitoring functionsCross-circuit: Monitoring via OSSD device Short-circuit: Monitoring via OSSD device Discrepancy errors: Monitoring via Flexi Loop node Sequence errors: Monitoring
Подробнее