г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

6041918 Sick

Артикул
6041918
Дополнительный Артикул
6041918
Бренд
Sick
Описание
Датчик LFV230-XXTNBTPM1800LFV230 VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE EXTENSION, XX WITHOUT APPROVALS, TEMPERATURE ENHANCED (150C), THREAD NPT3/4 (PN64, 316L),
Теги
Tube

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DGS65AZA0S01
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: PFT-SCB1X0SG2SSAVMSSZ
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6038785)PFT-SCB1X0SG2SSAVMSSZPFT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTERCOMPOUND PRESSURE (+- RELATIVE)-1…0 BARACCURACY +-0.5% OF SPANG1/4 FEMALESTANDA
Подробнее
Артикул: WSWE92N430
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICNPNIR7 M RANGEFIXED SENSITIVITY4-PIN M12
Подробнее
Артикул: 1017810
Бренд: Sick
Описание: Датчик KT 5W-2P1123 20MSOFF / CONTRAST SENSORPNP OUTPUTLENS 211 (10 MM)DYNAMIC TEACH-IN20MS FIXED OFF DELAY5-PIN M12
Подробнее
Артикул: PHT-RB1X0SD30S0AMS0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Liquid, gaseous. Pressure type: Gauge pressure. Measuring range: 0 bar ... 1 bar. Process temperature: –20 °C ... +150 °C. Output signal: 4 mA ... 20 mA. EHEDG approval: ?_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Non-linearity: ? ± 0.2 %, of span (Best Fit Straight Line, BFSL) according to IEC 61298-2. Accuracy: ? ± 0.5 % of the span optional 0.25 % of span (adjusted in vertical mounting position with lower pressure connection). Non-repeatability: ? ± 0.1 % of the span. Response time (10 % ... 90 %): ? 10 m
Подробнее
Артикул: 260F240
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик FIBER PHOTOELECTRICPNPIRTERMINAL
Подробнее