г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

6038209 Sick

Артикул
6038209
Дополнительный Артикул
6038209
Бренд
Sick
Описание
Датчик LBV330-XXAGDRAMX1500LBV330 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS WITH TUBE EXTENSION, WITHOUT APPROVALS,THREAD G1 1/2 A (PN25, 316L), RELAY (DPDT)
Вес
10,00 кг
Теги
Tube

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: CLV4325010S01
Бренд: Sick
Описание: Сканер RASTER SCAN / CLOSE RANGE / PLASTIC WINDOW / SOFTWARE SELECTABLE HOST PORT RS 232/422/485
Подробнее
Артикул: 1018295
Бренд: Sick
Описание: Датчик расстояния WT9-2P430 - PROXIMITY BGSPNPRED5.250MM RANGESENSING DISTANCE ADJ 4-PIN M12
Подробнее
Артикул: WF80-60B416 GAB
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик WF80-60B416 GAB(6028462)
Подробнее
Артикул: 6027581
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM18-20NNS-NC1 INOX / 20MM RANGEIP69KNPNNON-FLUSHNOINOX
Подробнее
Артикул: M20E-081A2A120
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0 m ... 25 m, configurable. Low scanning range: 0 m ... 6 m. Great scanning range: 2 m ... 25 m. Number of beams: 8. Beam separation or resolution: 116 mm. Response time: 8 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 2 (EN 61496). Safety integrity level: SIL1 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL1 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 2 (EN ISO 13849). Test rate (internal test): 13 /s (EN ISO 13849) 1). Maximum demand rate: ? 8 /min (EN ISO 13849) 2). Perform
Подробнее
Артикул: WSWE1402N330
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6024786)WS/WE140-2N330 TRHU-BEAMTHROUGH-BEAM PENPNLO/DO RED LEDM8 3-PIN
Подробнее