г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

6013710 Sick

Артикул
6013710
Дополнительный Артикул
6013710
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик VS/VE18-3F3340 PHOTOELECTRIC
Вес
3,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: DSL-1208-G02MAC
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6030121)DSL-1208-G02MACEXTENSIONM12FEMALE8-PINSTR. -TO- M12MALE8-PINSTR.PURBLK2MSHIELDED
Подробнее
Артикул: WL4S-3P2130
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1042069)WL4S-3P2130 PE REFLEXRETRO-REFLECTIVE PEPNPLIGHT OP.RED LEDM8 3-PIN
Подробнее
Артикул: 6030713
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик WL100L-E2231 PE REFLEX / RETRO-REFLECTIVE PERED LASERNPNLO/DO M8 4-PIN
Подробнее
Артикул: EKS36-0JF0A020A
Бренд: Sick
Описание: Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Test rate: 1 h_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Resolution per revolution: 20 bit. Signal noise: ± 4 see diagrams 1 and 2. Number of the absolute ascertainable revolutions: 1. Measuring step per revolution: 1,048,576. Error limits positional valuesIntegral non linearity in angular seconds: ± 60. Error limits positional valuesDifferential non-linearity in angular seconds: ± 40. Max. speed when switching on and resettingthe motor feedback system: ? 6,000 U/min. Available memory area: 8,192 By
Подробнее
Артикул: 1057076
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFP0500-A4NMB / TDR LEVEL SENSOR LFPPROBE 500 MMG 3/4 PROCESS CONNECTION2X PNP/NPN0.10V OR 0.20MAM125-PIN
Подробнее
Артикул: 1213510
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG50S-3100D10501MLG PRIME 50MM SPACING, 3100 MM DETECTION HEIGHT, 3 X Q (IO-LINK), 5M SENSING RANGE, STANDARD CONFIGURATION
Подробнее