г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

6013342 Sick

Артикул
6013342
Дополнительный Артикул
6013342
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик VTE18-4N4812 PROX 400 MM / PLASTICRA NPN 2M CBL L/D
Вес
3,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1069555
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик GRTE18S-N236ZGRTE18S-N236Z PHOTOELECTRIC PROXIMITY SENSORLED RED LIGHTSENSING DISTANCE 800 MMNPN LIGHT.ONM12 PLUGM18 METAL AXIAL FULLYFLUSH
Подробнее
Артикул: WE4-3F3430
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (2046394)WE4-3F3430THROUGH-BEAM PE SENSORRECEIVER ONLYPNPRED4-PINM12 PIGTAILDARK OP.
Подробнее
Артикул: 6050894
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBS-RP015SN1SS0BMA0ZPBS ELECTRONIC PRESSURE SWITCH WITH DISPLAY, GAUGE PRESSURE (RELATIVE), 0.15 PSI, ACCURACY +/-1% OF SPAN, 1/4 NPT, STANDARD, PRO
Подробнее
Артикул: CLV4426010S01BAR
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик 1024009 - OSCILLATING MIRROR SCANNER / STANDARD OPTICS
Подробнее
Артикул: DRS60EAZ0S01
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: DL100-21AA2102
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Performance_x000D_ Sick;Measuring range: 0.15 m ... 100 m, on reflective tape "Diamond Grade". Resolution: 0.1 mm, 0.125 mm, 1 mm, 10 mm, 100 mm. Repeatability: 0.5 mm 1). Accuracy: ± 2 mm 2). Dead time: 2 ms. Internal measurement cycle: 1 ms. Output time: Synchronous to PLC request (dependent on interfaces). Light source: Laser, red 3). Laser class: 2 (EN 60825-1 / CDRH). Typ. light spot size (distance): 5 mm (+ 2 mm x distance in m). Max. movement speed: 30 m/s. Acceleration (max.): ? 15 m/s?_x000D_ Sick;1) Statistic
Подробнее