г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

6008933 Sick

Артикул
6008933
Дополнительный Артикул
6008933
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC 400MM RANGE 100MA 10-30VDC
Теги
Фотоэлектрика

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WT1000N152
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC50 MM BACKGROUND SUPPRESSIONNPNIR2 M CABLE
Подробнее
Артикул: WR12L2B550A01
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: WL34-V230
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1019243)WL34-V230RETRO-REFLECTIVE PEPOLARIZEDPNP/NPNREDTERMINAL CHAMBERALARM
Подробнее
Артикул: 6036376
Бренд: Sick
Описание: Серия LFV200 LFV200-XASNBCPVLFV200 COMPACT VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE, XA WITH WHG OVERFLOW PROTECTION, STANDARD (100C), THREAD NPT3/4 (PN64, 316L), STAINL
Подробнее
Артикул: 1057110
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFP2000-B4NMB / TDR LEVEL SENSOR LFPPROBE 2000 MM3/4" NPT PROCESS CONNECTION2X PNP/NPN0.10V OR 0.20MAM125-PIN
Подробнее
Артикул: M40E-043023RB0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0.5 m ... 20 m. Great scanning range: 9 m ... 70 m. Number of beams: 4. Beam separation: 300 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation. End cap with integrated LED: ?_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failu
Подробнее