г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

45N250 Sick

Артикул
45N250
Дополнительный Артикул
45N250
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTONPNIR300 M RANGEHEATED LENSPG 13.5 BLE ENTRY
Вес
10,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1073327
Бренд: Sick
Описание: Сканер BAS351-58000SYSTEM CONTAINS TIM351 SCANNER WITH ADJUSTABLE FIELDS80VDC-24VDC POWER CONDITIONER(2) 24V RELAYSBUZZERCLAMPSDIN RAILCONNECTED
Подробнее
Артикул: LMS4003MCOMMCABL
Бренд: Sick
Описание: Датчик LiDAR COMMISSIONING CABLE TO PLUG COVER TERMINAL INTERFACE 3M
Подробнее
Артикул: 1056423
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IME12-04BPPZW2KSHORT BODY, ADVANCED (2X) SN, NON-FLUSH, PNP, NO+NC, 2M CABLE
Подробнее
Артикул: M40E-69A105RA0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0.5 m ... 20 m. Great scanning range: 9 m ... 70 m. Length of the monitored area: 1,650 mm. Resolution: 80 mm. Response time: 17 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 1.4
Подробнее
Артикул: IM08-2N5PS-ZWB
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM08-2N5PS-ZWB(6022189)
Подробнее
Артикул: 7022344
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик L6BSATCH323000 LT GUIDE / FIBER-OPTICBIFURCATEDANGLED/THREADEDPERPENDICULAR SPOT 3000MMFOR NTL 6315C
Подробнее