г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

2P227 Sick

Артикул
2P227
Дополнительный Артикул
2P227
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICIRPNPLIGHT SWITCHINGIP67M8
Вес
3,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: IMF12-08NPSVC0S
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6035464)IMF12-08NPSVC0S2 X SN (DOUBLE SENSING DISTANCE)NON-FLUSHIP69KPNPNO
Подробнее
Артикул: IM08-1B5NS-ZT1
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6020220)IM08-1B5NS-ZT1 INDUCTIVE1.5MM FLUSHNPNNOM8
Подробнее
Артикул: ML20M-P1211
Бренд: Sick
Описание: Датчик расстояния Features_x000D_ Sick;Dimensions (W x H x D): 46 mm x 77 mm x 46 mm. Sensing distance: 20 mm. Housing design (light emission): Rectangular. Sensing distance tolerance: ± 2.5 mm. Light source: LED, white 1). Wave length: 400 nm ... 700 nm. Light spot size: 60 mm x 3 mm. Repeatability: 0.6 mm 2). Max. movement speed: 7 m/s. Adjustment: Start stop teach, trigger teach. Image length (min.): ? 40 mm. Picture length (max.): ? 1,000 mm. Picture height (min.): ? 34 mm. Tolerance lateral movement: ± 5 mm_x000D_ Sick;1) Average s
Подробнее
Артикул: 6041891
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFV230-XXTNBTPM0200LFV230 VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE EXTENSION, XX WITHOUT APPROVALS, TEMPERATURE ENHANCED (150C), THREAD NPT3/4 (PN64, 316L),
Подробнее
Артикул: 260F270
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNPREDOPERATING RANGE 30 MTERNAL
Подробнее
Артикул: 7027813
Бренд: Sick
Описание: Сканер OPS 290 STANDARD / OPS290 OMNI SCANNING SYSTEMINCLUDES (2) CLV490 SCANNERSMSC800 CONTROLLERCABLESMOUNTING HARDWARE AND CLONING MODULES.
Подробнее