г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

20P214B Sick

Артикул
20P214B
Дополнительный Артикул
20P214B
Бренд
Sick
Описание
Лазерный датчик DISTANCE MEASURING DEVICEPROXIMITY100 TO 600MM4MA TO 20MA SCALABLE2MM ACCURACY1MM REPEAT.<0.5MM RES.PNPRED LASER
Вес
10,00 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: VL18-3P3812
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC SENSOR 10-30VDC .05-3.7M IP67
Подробнее
Артикул: USPWRCORD
Бренд: Sick
Описание: Ультразвуковые Датчик USA PWR CORD 120 VAC6FT
Подробнее
Артикул: 1058206
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик GRL18S-F233Y / PHOTOELECTRIC RETRO-REFLECTIVE SENSORPINPOINT RED LIGHT LEDPOLARIZATION FILTERSENSING RANGE 6 MPNP DARK.ONM12 PLUGM18 METAL
Подробнее
Артикул: DME4000-224
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Performance_x000D_ Sick;Measuring range: 0.15 m ... 130 m, on reflective tape "Diamond Grade". Resolution: 0.05 mm ... 5 mm. Repeatability: 2 mm 1) 2). Accuracy: ± 5 mm. Output time: 2 ms. Light source: Laser, red 3). Laser class: 2 (EN 60825-1 / CDRH). Typ. light spot size (distance): 130 mm (at 70 m)_x000D_ Sick;270 mm (at 150 m)_x000D_ Sick;360 mm (at 220 m)_x000D_ Sick;. Max. movement speed: 10 m/s_x000D_ Sick;1) On reflective tape "Diamond Grade"_x000D_ Sick;2) Statistical error 1 ?, environmental conditions constant, min. warm-up time 10 min._x000D_ Sick;3) Average servic
Подробнее
Артикул: WL122N420
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICFOCUSEDPOLARIZEDREDNPN0 . . . 500M RANGE (TAPE)4-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: RZT6-03ZRS-KRO
Бренд: Sick
Описание: Датчик 1023975 / RZT6-03ZRS-KRO CYL. SENS.
Подробнее