г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

2042802 Sick

Артикул
2042802
Дополнительный Артикул
2042802
Бренд
Sick
Описание
Датчик давления CLV 6XX UNIVERSAL CLAMP / UNIVERSAL CLAMP MOUNTINGBAR ATTACHMENT
Теги
Датчик давления

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6038693
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PBT-CB010SG1SSNAMA0ZPRESSURE TRANSMITTER PBT,COMPOUND PRESSURE (+-), -1…+9 BAR,NON-LINEARITY +-0.5% OF SPAN (BFSL),G1/4A ACC. TO DIN3852-E,STANDARD,
Подробнее
Артикул: 5313027
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LL3-DK63Z FIBER OPTICPLASTIC FIBER-OPTIC, BIFURCATED, SUPER FLEX, 2.5X65 END TIP, M4 MOUNT, STANDARD
Подробнее
Артикул: RANGER-C55IR
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1014224)RANGER-C55 IRRANGER C55 IR - 3D AND MULTISCANUP TO 30K PROF/S. CAMERALINK INTERFACE512 X 512 SENSOR WITH IR BAND-PASS FILTERHIGH RESO
Подробнее
Артикул: UE422HD2D2SAFETY
Бренд: Sick
Описание: Ультразвуковые Датчик SAFETY MODULES
Подробнее
Артикул: NT6-04025
Бренд: Sick
Описание: Сканер (1010103)NT 6-04025 REGIS SCANNER
Подробнее
Артикул: PSD02-2301
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 4.5 m. Number of beams: 4. Beam separation: 300 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 6.6 x 10-9 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849). Safe state in the event of a fau
Подробнее