г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

183P430 Sick

Артикул
183P430
Дополнительный Артикул
183P430
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPRED50.600 MMABS4-PIN M12 NNECTORPOTENTIOMETER
Вес
3,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1022312
Бренд: Sick
Описание: Датчик KT 5W-2P2116 PE CONTRAST / CONTRAST SENSORPNP OUTPUTLENS 211 (10 MM)PERPENDICULAR LIT SPOTSTATIC TEACH-IN5-PIN M12
Подробнее
Артикул: WT34-V250
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (1019236)WT34-V250PROXIMITY PEBGSPNP/NPNREDTERMINAL CHAMBERTIMINGALARM
Подробнее
Артикул: DRS60F1T05000
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: IMA08-04BE3ZC0K
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик Features_x000D_ Sick;Housing: Cylindrical thread design. Thread size: M8 x 1. Diameter: O 8 mm. Sensing range Sn: 4 mm. Safe sensing range Sa: 3.24 mm. Installation type: Quasi-flush. Connection type: M12, 4-pin male connector. Output function: Analog. Repeatability (Ta not constant): 0.3 mm 1) 2) 3). Repeatability (Ta constant): ± 0.01 mm. Resolution: ? 1 µm. Enclosure rating: IP 67 4)_x000D_ Sick;1) As per IEC 60947-5-2._x000D_ Sick;2) Ub = DC 20 V ... 30 V._x000D_ Sick;3) TA = 23 °C ± 5 °C._x000D_ Sick;4) According to EN 60529: 2000-09._x000D_ Sick;Mechanics/elec
Подробнее
Артикул: 1016701
Бренд: Sick
Описание: Сканер (CLV 410-1910S01 BARCODE) CLV 410-1910S01 BARCODE
Подробнее
Артикул: LBV330-XXANDRKMX2500
Бренд: Sick
Описание: Датчик (6039552)LBV330-XXANDRKMX2500LBV330 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS WITH TUBE EXTENSIONWITHOUT APPROVALSTHREAD NPT1 1/2 (PN25316L)RELA
Подробнее