г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

182T1410 Sick

Артикул
182T1410
Дополнительный Артикул
182T1410
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC100MMLIGHT OPERATETRIAC OUTPUTIR4-PIN M12 CONNECTOR
Вес
3,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6038098
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV310-XXBNDNANXLBV310 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS, WITHOUT APPROVALS, TEMPERATURE ENHANCED (250C), THREAD NPT1 1/2 (PN25, 316L), NAMUR S
Подробнее
Артикул: 1016115
Бренд: Sick
Описание: Сканер KT 2R-2B3711 CNTRAST SCAN / CONTRAST SENSORRED LEDPNP/NPN OUTPUT13.5 MM5-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: 1063758
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG3-1020A8221020X30MMANALOGPNPM128 PIN85MBEAM ANGLE +/-3.6 DEGREESPROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: 6009519
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC
Подробнее
Артикул: UE11-4DX2D30.5
Бренд: Sick
Описание: Ультразвуковые Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL2 (IEC 61508) 1)_x000D_ Sick;SILCL2 (EN 62061) 1)_x000D_ Sick;. Category: Category 3 (EN ISO 13849) 1). Performance level: PL d (EN ISO 13849) 1). B10d parameter: 1 x 106 switching cycles (AC-15, 230 V, I = 0.5 A)_x000D_ Sick;3.5 x 105 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 2 A)_x000D_ Sick;1.2 x 106 switching cycles (DC-13, 24 V, I = 0.5 A)_x000D_ Sick;. PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 2.0 x 10-7 (EN ISO 13849). TM (mission time): 4 years (EN ISO 13849)_x000D_ Sick;1) If the feedback current
Подробнее
Артикул: 1006239
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRIC SWITCH
Подробнее