г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

160TE391 Sick

Артикул
160TE391
Дополнительный Артикул
160TE391
Бренд
Sick
Описание
Датчик MARK SENSORNPNL/DGREEN10MMM8 3-PINVERTICAL HOUSING
Вес
3,00 кг

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6052380
Бренд: Sick
Описание: Датчик WT100-2P4419PNPRED LIGHT PROXIMITY SENSORWITH BACKGROUND BLANKING AND A LO/DO ROTARY SWITCH AND POTENTIOMETERM8 4-PIN PLUGWITH 1 BRACKET
Подробнее
Артикул: VTE18-4P8440
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6013155)VTE18-4P8440 PROX 800 MMMETALRIGHT-ANGLE800MMPNPM12 QDL/D OPERATEPOT
Подробнее
Артикул: PBSH-RP100ST1S0BMA0Z
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления (6059244)PBSH-RP100ST1S0BMA0ZPBSH ELECTRONIC PRESSURE SWITCHPRESSURE TRANSMITTER AND DISPLAY FOR HYGIENIC APPLICATIONSGAUGEPSI0.100 PSIACC
Подробнее
Артикул: WTD20E-V2445
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик Features_x000D_ Sick;Sensor/detection principle: Photoelectric proximity sensor. Dimensions (W x H x D): 42 mm x 42 mm x 45 mm. Housing design (light emission): Rectangular. Sensing range max.: 30 mm ... 40 mm 1). Sensing range: 30 +/- 2 mm. Type of light: Visible red light. Light source: PinPoint LED 2). Light spot size (distance): O 1 mm (30 mm, 4 x O 1 mm (30 mm)). Wave length: 635 nm. Adjustment: None. Background suppression: ? 60 mm. Key feature of the object: Edges_x000D_ Sick;1) The sensing range max. refers to
Подробнее
Артикул: 7028984
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICIRNPNDARK SWITCHINGIP67M8
Подробнее
Артикул: 1200069
Бренд: Sick
Описание: Лазерный датчик 3 BEAM400 MM BEAM SPACING: SENDERLASER ALIGNMENT AIDADVANCED
Подробнее