г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

160F440 Sick

Артикул
160F440
Дополнительный Артикул
160F440
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNPIROPERATING RANGE 7 M4-PIN8VERTICAL HOUSING
Вес
3,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: PEREFLEX
Бренд: Sick
Описание:

Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDREDPNP3-PIN M8DARK OP.

Подробнее
Артикул: LFP0700-B5NMC
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1062269)LFP0700-B5NMCTDR LEVEL SENSOR LFPPROBE 700 MM3/4" NPT PROCESS CONNECTION4X PNP/NPN0.10V OR 0.20MAM128-PIN
Подробнее
Артикул: M40E-043010RR0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0.5 m ... 20 m. Great scanning range: 9 m ... 70 m. Number of beams: 4. Beam separation: 300 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation. Integrated laser alignment aid: ?_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous fa
Подробнее
Артикул: WF5-95B410 GAB
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик WF5-95B410 GAB(6028444)
Подробнее
Артикул: 1062255
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFP1200-A5NMCTDR LEVEL SENSOR LFP, PROBE 1200 MM, G 3/4 PROCESS CONNECTION, 4X PNP/NPN, 0.10V OR 0.20MA, M12, 8-PIN
Подробнее
Артикул: 1067180
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IME12-08NDSZC0SADVANCED (2X) SN, NON-FLUSH, DC 2-WIRE, NO, M8 CONNECTOR
Подробнее