г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

15P3249 Sick

Артикул
15P3249
Дополнительный Артикул
15P3249
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Вес
3,00 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 3003212
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик INTERBUSFIBRE OPTIC CABLE200MCARRIER FREQUENCY 2
Подробнее
Артикул: 6042609
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления PFT-FCA100SF1OSSAMSSZPFT FLEXIBLE PRESSURE TRANSMITTER,COMPOUND PRESSURE (+- RELATIVE), -100…0 MBAR,ACCURACY +-0.5% OF SPAN,G1B FLUSH-MOUNTED WITH O
Подробнее
Артикул: 1011680
Бренд: Sick
Описание: Сканер NT 6-03218 REGIS SCANNER / CONTRAST SENSORPARALLEL LIGHT SPOTRED/GREENPNP/NPNREMOTE SENSITIVITY5-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: KT5W-2N2113
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1018042)KT 5W-2N2113 CONTRASTCONTRAST SENSORNPN OUTPUTLENS 211 (10 MM)PERPENDICULAR SPOTDYNAMIC TEACH-IN5-PIN M12
Подробнее
Артикул: 1068656
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IQ12-08NPSKT0SS038MM NON-FLUSHPNPNOM8
Подробнее
Артикул: LFP0300-N1NMB
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Fluids. Measurement: Switch, Continuous. Design: Standard. Probe length: 300 mm. Process pressure: –1 bar ... 16 bar. Process temperature: –20 °C ... +150 °C. GOST approval: ?. UL approval: ?. RoHS certificate: ?. IO-Link: ?. EHEDG approval: ?_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 5 mm. Repeatability: ? 2 mm. Resolution: < 2 mm. Response time: < 400 ms 1). Dielectricity constant: ? 5 for mono probe_x000D_ Sick;? 1.8 with coaxial tube_x000D_ Sick;. Conductivity: No limitation. Deactivated area at en
Подробнее