г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1215582 Sick

Артикул
1215582
Дополнительный Артикул
1215582
Бренд
Sick
Описание
Датчик MLG02A-0745R13201MLG PRO 5MM SPACING145 MM DETECTION HEIGHT2 X ANALOG + 2 X I/O (IO-LINK)5M SENSING RANGESTANDARD CONFIGURATION

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6027581
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM18-20NNS-NC1 INOX / 20MM RANGEIP69KNPNNON-FLUSHNOINOX
Подробнее
Артикул: WTR1-P421A10-P03
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (7125298)WTR1-P421A10P03WTR 1-P421A10 AND SHORT BRACKET ASSEMBLY FOR CONVEYOR UPGRADES
Подробнее
Артикул: CLV430-0910S02
Бренд: Sick
Описание: Сканер CLV430-0910S02(1019220)
Подробнее
Артикул: 1043607
Бренд: Sick
Описание: Датчик TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 1600 MM1X PNP + 4…20MAFIX HYSTERESIS 3MMSWITCHING OUTPUTS: NCM12X15-PINNO SPECIAL OPTIONS
Подробнее
Артикул: FLN-OSSD1000105
Бренд: Sick
Описание: Датчик Safety-related parameters_x000D_ Sick;Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 0.76 x 10-9 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 years (EN ISO 13849)_x000D_ Sick;Functions_x000D_ Sick;Diagnostic and monitoring functionsCross-circuit: Monitoring via OSSD device Short-circuit: Monitoring via OSSD device Discrepancy errors: Monitoring via Flexi Loop node Sequence errors: Monitoring
Подробнее
Артикул: 1062262
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFP1900-A5NMCTDR LEVEL SENSOR LFP, PROBE1900 MM, G 3/4 PROCESS CONNECTION, 4X PNP/NPN, 0.10V OR 0.20MA, M12, 8-PIN
Подробнее