г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

11F2430PEREFLEX Sick

Артикул
11F2430PEREFLEX
Дополнительный Артикул
11F2430PEREFLEX
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC
Вес
1,36 кг
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 190805-001
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик SICK OPTIC ELECTRONICLEDEX
Подробнее
Артикул: WSWE260P230
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRI
Подробнее
Артикул: 1071229
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IME12-06BNOZC0SM12 THREADED BODY6MM RANGEQUASI-FLUSHNPNNORMALLY CLOSED4-PIN M12 CONNECTORSTANDARD HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: IMB12-04BNSVU2S
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1072741)IMB12-04BNSVU2S4MM RANGESHIELDEDNPNNORMALLY OPEN2M CABLESTANDARD HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: WLL180T-F232S01
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6041509)WLL180T-F232S01PNPLO/DOMANUALLY SELECTABLEOPEN COLLECTORFIBER OPTIC AMPLIFIER EXPANSION UNITWITH A RED LEDAND A 2 WIRE CABLE
Подробнее
Артикул: LBV310-XXAGDC8MX
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Bulk solids. Measurement: Switch. Probe length: 220 mm. Process pressure: –1 bar ... 25 bar. Process temperature: –50 °C ... +150 °C. Fill material density: ? 0.008. Particle size: < 10 mm_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 10 mm. Repeatability: ? 5 mm. Response time: 500 ms when covered / 1,000 ms when uncovered_x000D_ Sick;Electronics_x000D_ Sick;Power consumption: < 4.2 mA. Initialization time: < 3 s. VDE protection class 1: ?. Electrical connection: M20 x 1.5. Supply voltage: Non-contact swi
Подробнее