г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1073135 Sick

Артикул
1073135
Дополнительный Артикул
1073135
Бренд
Sick
Описание
Сканер BAS351-34000SYSTEM CONTAINS TIM351 SCANNER WITH ADJUSTABLE FIELDS48VDC-24VDC POWER CONDITIONER(2) 24V RELAYSBUZZERCLAMPSDIN RAILCONNECTED
Теги
Сканер, VDC

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WTB160T-N232
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICNPNL/DRED50 . . . 150 MM RANGECABLEHORIZONTAL HOUSING
Подробнее
Артикул: 5326598
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик LL3-TZ09PLASTIC FIBRE OPTIC,INDIVIDUAL,11MM ARRAY,SIDE EXIT, HIGH FLEX,1MM BEND RADIUS.
Подробнее
Артикул: 1041052
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IME30-20NPOZW2S / ADVANCED (2X) SNNON-FLUSHPNPNC2M CABLE
Подробнее
Артикул: 6036645
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик OD2-P250W150IO DISPLACEMT / DISPLACEMENT SENSOROD VALUE250MM +/- 150MMPNP M12-8P 4-20A
Подробнее
Артикул: 11N430
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICNPNREDABS4-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: LFH-SBX25G1AS10SZ0
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Fluids. Pressure type: Gauge pressure. Measuring range: 0 bar ... 0.25 bar. Process temperature: –10 °C ... +50 °C. Output signal: 4 mA ... 20 mA. Cable length: 10 m_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Non-linearity: ? ± 0.2 %, of span (Best Fit Straight Line, BFSL) according to IEC 61298-2. Accuracy: ? ± 0.5 % of span with standard version with p < 0.25 bar 1). Non-repeatability: ? ± 0.1 % of the span. Long-term drift/one-year stability : ? ± 0.2 % of span (at reference conditions). Temperature coeffi
Подробнее