г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1071282 Sick

Артикул
1071282
Дополнительный Артикул
1071282
Бренд
Sick
Описание
Индуктивный датчик IME30-20BPOZW2KM30 THREADED BODY20MM RANGEQUASI-FLUSHPNPNORMALLY CLOSED2M PVC CABLESHORT HOUSING LENGTH

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1023614
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG 5-1000I212 LIGHTGRID / HEIGHT 1000MM/BEAM SPACING 50MM4X PNPRS485. 2 X INPUTSRANG5MPROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: IE11-S3
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (5306540)IE11-S3TRANSVERSALI11 ACTUATOR: TRANSVERSAL
Подробнее
Артикул: 6012064
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC SLOT SENSORPNP/NPNIR500 HZ15 MM SLOT4-PIN M8 CONNECTOR REPLACED BY 6028430
Подробнее
Артикул: WS/WE150-P430
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6011032)WS/WE150-P430 THRU-BEAMTHROUGH-BEAM PEPNPRED LEDM8 4-PIN
Подробнее
Артикул: MLG2-0280F511
Бренд: Sick
Описание: Датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 25 mm 1). Beam separation: 20 mm. Number of beams: ? 15. Detection height: 280 mm. Configuration: Standard (switching)_x000D_ Sick;1) MDO min. detectable object._x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum range: 7 m 1). Minimum range: Parallel beam: ? 0 mm. Working range: 5 m. Response time: Parallel beam ? 3.25 ms 2)_x000D_ Sick;1) No reserve for environmental issue and deterioration of the diode._x000D_ Sick;2) With resistive load._x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Switching output: 1 x P
Подробнее
Артикул: WS1000A310
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик 7023844 - THROUGH-BEAM PESENDERIR3-PIN MICRO
Подробнее