г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1069629 Sick

Артикул
1069629
Дополнительный Артикул
1069629
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик GRSE18S-P1142GRSE18S-P1142 PHOTOELECTRIC THROUGH-BEAM SENSORPINPOINT RED LIGHTSENSING DISTANCE 10 MPNPCOMPLIMENTARY OUTPUTCABLE 2MM18 META
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1015124
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOELECTRICPNPREDOPERATING RANGE 35 M7-PIN SQUARE CONNECTOR
Подробнее
Артикул: 1200065
Бренд: Sick
Описание: Датчик 2 BEAM500 MM BEAM SPACINGRECEIVERADVANCED
Подробнее
Артикул: 1072842
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IMB30-15BPOVU2S15MM RANGESHIELDEDPNPNORMALLY CLOSED2M CABLESTANDARD HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: DSL-1203-F0M6C
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (6041316)DSL-1203-F0M6CEXTENSIONM12FEMALE3-PINRT. ANGLE -TO- M12MALE3-PINRT. ANGLEPURBLK0.6MPIN 2 N.C. AND FEMALE BRIDGELED-
Подробнее
Артикул: DRS60EAA00127
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: C40E-0302FY010
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 20 mm. Protective field height: 300 mm. Scanning range: 0.5 m ... 19 m, configurable. Response time: ? 10 ms 1). Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;1) Without beam coding, with 1 x sampling, no cascaded systems. Other response times see operating instructions._x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability
Подробнее