г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1063517 Sick

Артикул
1063517
Дополнительный Артикул
1063517
Бренд
Sick
Описание
Датчик WTB2S-2P3230WTB2S-2P3230 SUBMINIATURE PROXIMITY SENSORBACKGROUND SUPPRESSION 30 MM FIXRED LIGHT PINPOINT 2.0 LEDPNPCOMPLEMENTARY OUTPUTSCABL

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WL100-2P4439
Бренд: Sick
Описание:

Фотоэлектрический датчик (6052362)WL100-2P4439PNPRED LIGHT ENERGETIC REFLEX SENSOR WITH A LO/DO ROTARY SWITCH AND POTENTIOMETERM8 4-PIN PLUGWITH 1 BRACKER AND P250 REF

Подробнее
Артикул: 1015396
Бренд: Sick
Описание: Сканер LUT 3-610 LUM SCANNERLUMINESCENCE SENSOR, PNP/NPN OUTPUT, LENS TW 10 (10 MM), 4-PIN 12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: IM12-04NNS-ZWB
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM12-04NNS-ZWB(6026527)
Подробнее
Артикул: 1213829
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG25A-2525I10501MLG PRO 25MM SPACING, 2525 MM DETECTION HEIGHT, RS-485 + 2 X I/O (IO-LINK), 5M SENSING RANGE, STANDARD CONFIGURATION
Подробнее
Артикул: CLV640-6000
Бренд: Sick
Описание: Сканер Features_x000D_ Sick;Version: Standard Density. Connection type: Cable. Reading field: Oscillating mirror. Scanner design: Line scanner. Focus: Dynamic focus control. Light source: Visible red light (655 nm). MTBF: 40,000 h. Laser class: 2 (EN 60825-1 (A2:2001-03), IEC 60825-1 : 2007-03, Ed. 2.0). Aperture angle: ? 50°. Scanning frequency: 400 Hz ... 1,200 Hz. Code resolution: 0.2 mm ... 1 mm. Reading distance: 45 mm ... 755 mm 1) Oscillating mirror functions: Fixed (adjustable position), oscillating (varia
Подробнее
Артикул: WT24-R2101A01
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC
Подробнее