г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1062991 Sick

Артикул
1062991
Дополнительный Артикул
1062991
Бренд
Sick
Описание
Датчик давления PAC50-DCCPAC50ELECTRONIC PRESSURE SWITCH0 BAR . +10 BAR / 15 BARBOTTOM SIDE: PUSH-IN FITTING FOR 4 MM PNEUMATIC HOSEBACK SIDE: THREAD G FEMALE
Теги
Датчик давления

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 1023440
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG 5-0400F511 LIGHTGRID / HEIGHT 400MM/BEAM SPACING 50MM1X PNPRANGE 5MSTANDARD
Подробнее
Артикул: 2SP231
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPREDLIGHT OP.30 MM BACKGROUND SUPPRESSIONM8 3-PIN 200MM PIGTAIL
Подробнее
Артикул: DRS60A1A01003
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: DFS60E-BHAL02048
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик DFS60E-BHAL02048(1037998)
Подробнее
Артикул: 6038176
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV330-XXANDRANX0600LBV330 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS WITH TUBE EXTENSION, WITHOUT APPROVALS,THREAD NPT1 1/2 (PN25, 316L), RELAY (DPDT)
Подробнее
Артикул: C40E-0602GY010
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 20 mm. Protective field height: 600 mm. Scanning range: 0.5 m ... 19 m, configurable. Response time: ? 12 ms 1). Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;1) Without beam coding, with 1 x sampling, no cascaded systems. Other response times see operating instructions._x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability
Подробнее