г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1059536 Sick

Артикул
1059536
Дополнительный Артикул
1059536
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик GRL18S-P1338 / PHOTOELECTRIC RETRO-REFLECTIVE SENSORPINPOINT RED LIGHT LEDPOLARIZATION FILTERSENSING RANGE 6 MPNP LIGHT.ONCABLE 2MM18 PLAS
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6011968
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM12-02BNS-ZT1 INDUCTIVE / 2MM FLUSHNPNNOM8
Подробнее
Артикул: DGS60G4T00500
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик
Подробнее
Артикул: 7122698
Бренд: Sick
Описание: Датчик C40P-1203AN310 - 1200 MM HEIGHT30 MM BEAM RESOLUTIONPAIR0-6M RANGEECO
Подробнее
Артикул: 1048255
Бренд: Sick
Описание: Датчик LFT2000-01B0C40 / TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 2000 MM4X PNPFIX HYSTERESIS 3MMSWITCHING OUTPUTS: 2 NO / 2 NCM12X18-PINNO SPECIAL OP
Подробнее
Артикул: LFPCT-1900N1
Бренд: Sick
Описание: Датчик (2068182)LFPCT-1900N1COAXIAL TUBE FOR G3/4 LFPPROCESS CONNECTION OF TUBE 3/4" NPTPROBE LENGTH 1900MM
Подробнее
Артикул: M40E-026013RB0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0.5 m ... 70 m, configurable. Low scanning range: 0.5 m ... 20 m. Great scanning range: 9 m ... 70 m. Number of beams: 2. Beam separation: 600 mm. Response time: 10 ms. Synchronization: Optical synchronisation. Integrated laser alignment aid: ?_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous fa
Подробнее