г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1059530 Sick

Артикул
1059530
Дополнительный Артикул
1059530
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик GRL18S-E1336 / PHOTOELECTRIC RETRO-REFLECTIVE SENSORPINPOINT RED LIGHT LEDPOLARIZATION FILTERSENSING RANGE 6MNPN DARK.ONCABLE 2MM18 PLASTI
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WT11N430
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICNPNREDABS4-PIN M12 CONNECTOR
Подробнее
Артикул: IT6300-DPM
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик HAND-HELD SCANNER DPM
Подробнее
Артикул: SL510084
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC 100MA 10-30VDC 1METER NPN
Подробнее
Артикул: WT27-2R610
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICUC SPDTIR100...1500 MM ABSTIME DELAYS6-PIN SQUARE PLUG PHASEOUT TO 1027763
Подробнее
Артикул: 7024618
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRIC100 MM BACKGROUND SUPPRESSIONNPNIR4-PIN M12 W/150MM PIGTAIL
Подробнее
Артикул: M20E-04130A120
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Scanning range: 0 m ... 25 m, configurable. Low scanning range: 0 m ... 6 m. Great scanning range: 2 m ... 25 m. Number of beams: 4. Beam separation or resolution: 300 mm. Response time: 8 ms. Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 2 (EN 61496). Safety integrity level: SIL1 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL1 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 2 (EN ISO 13849). Test rate (internal test): 13 /s (EN ISO 13849) 1). Maximum demand rate: ? 8 /min (EN ISO 13849) 2). Perform
Подробнее