г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1057110 Sick

Артикул
1057110
Дополнительный Артикул
1057110
Бренд
Sick
Описание
Датчик LFP2000-B4NMB / TDR LEVEL SENSOR LFPPROBE 2000 MM3/4" NPT PROCESS CONNECTION2X PNP/NPN0.10V OR 0.20MAM125-PIN

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: VTB180-2P42417
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6043874)VTB180-2P42417 BGS PLASTIBGSIP67PLASTICPNP4W M1210-350MMLO/DO
Подробнее
Артикул: CLV4325010S01
Бренд: Sick
Описание: Сканер RASTER SCAN / CLOSE RANGE / PLASTIC WINDOW / SOFTWARE SELECTABLE HOST PORT RS 232/422/485
Подробнее
Артикул: C40E-0302FY010
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 20 mm. Protective field height: 300 mm. Scanning range: 0.5 m ... 19 m, configurable. Response time: ? 10 ms 1). Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;1) Without beam coding, with 1 x sampling, no cascaded systems. Other response times see operating instructions._x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability
Подробнее
Артикул: 7028643
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICIRNPNLIGHT SWITCHINGIP672M CABLE
Подробнее
Артикул: DME3000-211S02
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (1015922)DME 3000-211S02 DIST MEASDISTANCE MEASURING DEVICE, PROXIMITY, 8 M, SSI, RS422
Подробнее
Артикул: 6020423
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик FIBER PHOTOELECTRICNPNREDCABLEPUSH-BUTTON TEACHADJUSTABLE
Подробнее