г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1052171 Sick

Артикул
1052171
Дополнительный Артикул
1052171
Бренд
Sick
Описание
Датчик WTB9-3P2211S14 / PROXIMITY BGSPNP LO/DOM8 4-PINIR LEDPOTENTIOMETER800MM SENSING RANGE

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: WL260-F470
Бренд: Sick
Описание:

Фотоэлектрический датчик (6020977)WL260-F470RETRO-REFLECTIVE PEPOLARIZEDPNPRED4-PIN M12P250 AND BRACKET INCLUDED

Подробнее
Артикул: BEF-KHZ-RT-63
Бренд: Sick
Описание: Датчик (2077674)BEF-KHZ-RT-63MOUNTING BRACKET ON ROUND BODY CYLINDERS WITH DIAMETER OF 63MMPLASTIC BAND WITH ALUMINUM SENSOR BRACKET
Подробнее
Артикул: WT100-P1412
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PHOTOELECTRIC ENER PNP CABLE DC10-30V
Подробнее
Артикул: LBV310-XXAGDR8NX
Бренд: Sick
Описание: Датчик давления Features_x000D_ Sick;Medium: Bulk solids. Measurement: Switch. Probe length: 220 mm. Process pressure: –1 bar ... 25 bar. Process temperature: –50 °C ... +150 °C. Fill material density: ? 0.008. Particle size: < 10 mm_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Accuracy of sensor element: ± 10 mm. Repeatability: ? 5 mm. Response time: 500 ms when covered / 1,000 ms when uncovered_x000D_ Sick;Electronics_x000D_ Sick;Power consumption: 5 mA ... 30 mA. Initialization time: 10 µA, < 3A AC, 1A DC. Inductive load: ? 1 H_x000D_ Sick;750 VA 54 W. Capacitive load: 100 nF_x000D_ Sick;750 VA 54
Подробнее
Артикул: VTE18-4P2940
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик (6013515)VTE18-4P2940 PROX 200 MMPLASTICRIGHT-ANGLE200MMPNPM12 QDL/D OPERATEPOT
Подробнее
Артикул: IQ1003BNSKW1
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик 7900204 / IQ10-03BNS-KW1 INDUC PROX
Подробнее