г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1045852 Sick

Артикул
1045852
Дополнительный Артикул
1045852
Бренд
Sick
Описание
Датчик LFT0300-01B1A20W00TDR LEVEL SENSOR LFT, COAXIAL PROBE 300 MM, 2X PNP + 4…20MA, FIX HYSTERESIS 3MM, SWITCHING OUTPUTS: NC, M12X1, 8-PIN, CUSTOMER SPE

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 6025870
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик IM08-04NNS-ZTKIND. PROX / NPN. NOM8NON-FLUSH
Подробнее
Артикул: 183P110
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPIR50.700 MMABSCABLEPOTEIOMETER
Подробнее
Артикул: 1064150
Бренд: Sick
Описание: Датчик GRL18S-F2358GRL18S-F2358PINPOINT RED LIGHTPOLARIZATION FILTERSENSING RANGE 6 MPNP DARK.ONM12 PLUGM18 PLASTIC RADIALINKLUSIVE REFLEKTOR P
Подробнее
Артикул: SPL-S280PPS1W04
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 45 mm. Beam separation: 40 mm. Optical light exit: Slim. Number of beams: ? 8. Detection height: 280 mm. Configuration: Without teach button with configuration software. Cross beam/parallel beam: Parallel beam active. Output 1: Output 1 active, if light beam interrupted. Automatic teach: Automatic teach active. Alignment aid: Without alignment aid. Muting function: Muting function deactivated_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximu
Подробнее
Артикул: WE45N660
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик THROUGH-BEAM PHOTOINDIVIDUAL RECEIVERNPN7-PIN ROUND PLUG
Подробнее
Артикул: GSE2S-E5311
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1064366)GSE2S-E5311NPN, DO, THRU BEAM SENSOR WITH PINPOINT RED LED AND AN M8 3-PIN, 200MM
Подробнее