г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1041849 Sick

Артикул
1041849
Дополнительный Артикул
1041849
Бренд
Sick
Описание
Датчик HLG2-050E811 / HEIGHT 50MM/BEAM SPACING 2MM2XNPN (Q AND QNOT)RANGE 2M

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: 140P122
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик PROXIMITY PHOTOELECTRICPNPL/DRED2.500 MM RANGE100 MS OFF-DELAYCABLE
Подробнее
Артикул: 6037478
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик VTF180-2N42417 / PE PROXIMITYBACKGROUND BLANKING100MMSTRAIGHTPLASTIC HOUSINGNPNM12
Подробнее
Артикул: 6038270
Бренд: Sick
Описание: Датчик LBV330-XXBNDRANX0400LBV330 VIBRATING LEVEL SWITCH FOR BULK SOLIDS WITH TUBE EXTENSION, WITHOUT APPROVALS,THREAD NPT1 1/2 (PN25, 316L), RELAY (DPDT)
Подробнее
Артикул: WLL2000-B5300
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик (7023071)WLL2000-B5300 PE SW FIBRFIBER-OPTIC PEPNP/NPNALARMRED5-PIN M12
Подробнее
Артикул: IMF18-05BNOVC0S
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6035471)IMF18-05BNOVC0S1 X SN (SINGLE SENSING DISTANCE)FLUSHIP69KNPNNC
Подробнее
Артикул: A3M60A-S4PB014X17
Бренд: Sick
Описание: Датчик Performance_x000D_ Sick;Max. number of steps per revolution: 16,384. Max. number of revolutions: 131,072, programmable. Resolution power: 16,384 x 131,072. Resolution: 14 bit x 17 bit. Error limits: ± 0.35° (at room temperature). Repeat accuracy: ± 0.15°, at room temperature. Initialization time: Approx. 1 s_x000D_ Sick;Interfaces_x000D_ Sick;Electrical interface: PROFIBUS DP. Bus interface: PROFIBUS DP. Data protocol: PROFIBUS DP V0, PROFIBUS DP V1 + V2. Data transmission rate (baud rate): 12 MBaud. Bus termination: DIP switch_x000D_ Sick;El
Подробнее