г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1012296 Sick

Артикул
1012296
Дополнительный Артикул
1012296
Бренд
Sick
Описание
Датчик 2 BEAM RECEIVER 500 MM BEAM SPACINGTOTAL HEIGHT 704MM (27.7IN)

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: V200WORKSTATION
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик V200 WORKSTATION20MM RESOLUTION1M X 1M MAXIMUM RANGE
Подробнее
Артикул: 1017853
Бренд: Sick
Описание: Датчик WS/WE24-2B430 / THROUGH-BEAM PEPNP/NPNRED4-PIN M12
Подробнее
Артикул: 1023373
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG 1-0590F212 LIGHTGRID / HEIGHT 590MM/BEAM SPACING 10MM6X PNP2 INPUTSRANGE 5MPROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: SGS4-F124P3PS2T00
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Technology: Sender/receiver. Minimum detectable object (MDO): Parallel beam, 45 mm. Beam separation: 40 mm. Optical light exit: Flat. Number of beams: ? 32. Detection height: 1,240 mm. Configuration: Teach button with configuration software. Cross beam/parallel beam: Parallel beam active. Output 1: Output 1 active, if light beam interrupted. Automatic teach: Automatic teach inactive. Alignment aid: Without alignment aid. Muting function: Muting function deactivated_x000D_ Sick;Performance_x000D_ Sick;Maximum r
Подробнее
Артикул: LFT0800-01B1A60W00
Бренд: Sick
Описание: Датчик (1045877)LFT0800-01B1A60W00TDR LEVEL SENSOR LFTCOAXIAL PROBE 800 MM2X PNP + 4…20MAPROGRAMMABLE HYSTERESISSWITCHING OUTPUTS: NCM12X18-PIN
Подробнее
Артикул: 6036537
Бренд: Sick
Описание: Серия LFV200 LFV200-XXHRNTPMLFV200 COMPACT VIBRATING LEVEL SWITCH WITH TUBE, XX WITHOUT APPROVALS, HYGIENIC (150C, POLISHED SURFACE), CONICAL COUPLING WITH UNION
Подробнее