г. Санкт-Петербург,
пер. Ульяны Громовой, д. 4
Время работы: с 9-00 до 21-00
8 (812) 385-56-15 Звонок по России бесплатный info@fgrus.ru

1006237 Sick

Артикул
1006237
Дополнительный Артикул
1006237
Бренд
Sick
Описание
Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRIC SWITCH
Теги
фотоэлектрический

Узнайте актуальную цену данного товара

Оставьте свой E-mail и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Доставка от 3 до 10 дней

из Европы Америки и Азии

Гарантия 12 месяцев

на всё оборудование, включая б/у

Можем поставить редкое и снятое

с производства оборудование

Более 5000 брендов

поставим под заказ

Похожие товары

Артикул: IMF12-04NNPVC0S
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (6035218)IMF12-04NNPVC0S1 X SN (SINGLE SENSING DISTANCE)NON-FLUSHIP69KNPNNC+NO
Подробнее
Артикул: M40E-62A303RB0
Бренд: Sick
Описание: Оптический датчик Features_x000D_ Sick;Resolution: 30 mm. Protective field height: 600 mm. Scanning range: 0 m ... 19 m Response timeWith beam coding: ? 15 ms Without beam coding: ? 11 ms . Synchronization: Optical synchronisation_x000D_ Sick;Safety-related parameters_x000D_ Sick;Type: Type 4 (IEC 61496). Safety integrity level: SIL3 (IEC 61508)_x000D_ Sick;SILCL3 (EN 62061)_x000D_ Sick;. Category: Category 4 (EN ISO 13849). Performance level: PL e (EN ISO 13849). PFHD (mean probability of a dangerous failure per hour): 2.8 x 10-8 (EN ISO 13849). TM (mission time): 20 yea
Подробнее
Артикул: IME12-10NPSZC0S
Бренд: Sick
Описание: Индуктивный датчик (1071242)IME12-10NPSZC0SM12 THREADED BODY10MM RANGENON-FLUSHPNPNORMALLY OPEN4-PIN M12 CONNECTORSTANDARD HOUSING LENGTH
Подробнее
Артикул: 1015108
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик REFLEX PHOTOELECTRICPOLARIZEDPNPRED14 M RANGE PL 80ATIME DELAYS6-PIN SQUARE PLUG PHASEOUT TO 1027772
Подробнее
Артикул: 1023585
Бренд: Sick
Описание: Датчик MLG 2-0280F812 LIGHTGRID / HEIGHT 280MM/BEAM SPACING 20MM3X PNP1X INPUTRANGE 5MPROGRAMMABLE
Подробнее
Артикул: VT180-N112
Бренд: Sick
Описание: Фотоэлектрический датчик 6008788 - ALTERNATE VTF 18-4N1212 (6012820)
Подробнее